一键测量仪

  • 产品概述

精密测量是制造业的核心技术,计量检测与原材料、工艺装备并列为工业生产的三大支柱。随着科学研究与制造技术的发展,精密测量技术具有全检、动态、数字化、在线化等发展趋势,基于光学成像及数字图像处理的测量技术近年来发展迅速,由于其非接触、全尺寸、多特征、可集成等优点在测量领域发挥越来越重要的作用。

  • 核心优势

  1. 快速、精准、全面

  2. 快速:批量检测时仅需要设置、保存好工件的检测项目、公差等规划,然后连续放置工件,按一键完成所有项目测量,且能够一次测量多个产品。相比传统测量工具快10倍。

  3. 精准:采用进口高分辨率工业CCD相机、高精度双远心镜头及平行光源,大景深、大视野一次成像,配合非线性畸变校正算法和亚像素图像分割算法,可实现亚微米级测量精度。

  4. 全面:拥有丰富的基本几何要素工具,且可以实现任意组合,可实现复杂图形、虚拟参考特征的一次性测量;具有多元化的数据智能存储、管理及统计功能,可实现多数SPC统计分析,可辅助生产决策及质量追溯。

  • 产品亮点

  1. 瞬间测量:测量速度快,大批量一次性检测时间<3s。

  2. 超大视野、高分辨率一次成像:采用高图像分辨率的CCD相机(660万像素)以及高光学分辨能力的双远心光学镜头,实现超大视野、超高分辨率的光学成像。

  3. 超大光学景深、无需重复调焦:采用双远心光学镜头具有大的光学景深参数,对于景深范围之内的尺寸测量无需重复调焦即可保证极高的重复精度。

  4. 智能匹配特征、无需夹具。一次测量多个产品:采用基于模式识别技术的特征匹配算法,在成像视场内自动搜索与标准图像相匹配的产品图像,实现智能匹配,无需夹具定位,并可一次测量多个产品的多项尺寸参数。

  5. 高精度远心光路组件,实现底畸变光学成像:采用高精度双远心镜头及远心平行光源,对投影轮廓实现低畸变的高对比度成像。

  6. 非线性图像校正算法:基于高精度标定板图像,使用非线性模型对镜头边缘的畸变进行校正,得到无失真的成像投影几何参数。

  7. 亚像素差值拟合处理算法: 利用亚像素的高阶统计算法,对几何特征进行插值及拟合运算,达到图像分辨尺度在1-2个数量级的测量精度。

  8. 自适应图像边缘检测算法:采用自适应的图像边缘检测算法,确保轮廓边缘的精准定位,抗环境光等外界因素干扰。

  9. 基于数据拟合的边缘异常点剔除:采用最小二乘法等拟合运算,对工件边缘毛刺、缺口等异常点进行剔除处理,保障几何参数测量的准确性。

  10. 智能简便的UI操作:本设备采用简洁易用的软件设计,使用户短时间内即可快速上手操作。

  11. 基本几何测量元素的智能组合:多种基于几何测量工具任意组合,可实现复杂图像、虚拟参考元素的一次性测量。

  12. 数据的智能化存储、管理及统计:具备SPC统计分析功能,可将报表数据、SPC曲线等以Excel、PDF等导出。

  • 系统功能

  1. 测量功能:线、圆、弧、角度等多种基础测量元素组合,解决:二维轮廓测量的线距、夹角、圆径等几何特征值;基于数据拟合的特征参数测量(峰值线、峰值圆等);虚拟参考基元(点、线、圆、夹角等)与实际基元的距离、夹角等几何特征值;基于基元参数的位置公差(圆度、直线度、垂直度等)快速测量。

  2. SPC统计:专用数据库,实现测量数据的实时存储以及趋势图、X-Bar的图表处理。

  3. 报告导出:可将测量结果以Excel、PDF、JPG等多种文件格式进行导出保存。

  4. 公差比对:测量规划时对标准值及正负公差进行设定,测量操作时自动根据测量值进行OK/NG判断。

  5. 外部接口:可定制数据通讯接口,与用户质量管理系统及自动化设备联接。

  • 产品参数

型号

OVG200

OVG150

OVG100

OVG50

OVG30

测量范围(mm)

Φ200

Φ150

Φ100

Φ50

Φ30

测量精度(mm)

 ±15

±10

±5

±3

±2

重复精度(mm)

±7

±5

±3

±2

±0.5

景深(mm)

300

150

60

30

10

测量速度(s)

≤1

图像传感器

500万像素CCD

照明系统

背面绿色LED远心平行光源,正面白色LED环形光源

软件

VCA一键测量专用软件

PC

DELL台式机,23寸显示器

电源

AC 220V   50Hz

工作环境

温度:5-35℃;湿度:20%-80%RH

质保期

一年


  • 行业应用

主要用于测量平面式产品,如精密机加件、冲压件、密封件、触摸屏、PCB、陶瓷基片等。


2014年10月17日

添加时间:

全自动轴径测量仪

上一个:

下一个:

网站首页>产品展示>产品详情